天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷美國LUMETRICS波前測量儀ClearWave Plus

產品型號：ClearWave Plus

關鍵字：LUMETRICS波前測量儀ClearWave Plus

關鍵字描述：這為隱形眼鏡制造商提供了中心厚度（CT），矢狀高度（SAG），直徑，曲率半徑以及所有當前需要三個獨立系統才能獲得的所有波陣面測量值。

產品介紹：

ClearWave Plus是隱形眼鏡制造商的計量解決方案，可同時測量以下各項：

球體，圓柱體，軸

Zernike WaveFront像差

直徑，CT，凹陷

標簽功率

所有這些操作都只需一個按鈕即可實現。

ClearWave Plus將改良的ClearWave與行業標準OptiGauge厚度測量系統結合使用。這為隱形眼鏡制造商提供了中心厚度（CT），矢狀高度（SAG），直徑，曲率半徑以及所有當前需要三個獨立系統才能獲得的所有波陣面測量值。由于ClearWave和OptiGauge系統已在全球的隱形眼鏡制造商的研發實驗室和生產設施中實施，因此Lumetrics是眼科相關測量解決方案的提供商。 ClearWave Plus在單一的操作員友好型解決方案中提供了這些產品中更好的產品，從而減少了對隱形眼鏡的處理。ClearWave Plus設計用于快速，準確地檢查隱形眼鏡。

參數：

高分辨率ClearWave波前傳感器（標準）：

101x101小透鏡陣列網格

視野：10.4 x 10.4毫米

空間分辨率：0.104毫米

球面范圍：-74至+37 D（典型濕鏡）

干球范圍為+8至-16屈光度

圓柱體范圍：典型濕鏡±27 D

干圓柱范圍為6（+/- 3）屈光度

球面像差精度0.004（干）

球差重復精度0.002 um（干）

棱鏡測量：

棱鏡測量0至3棱鏡屈光度，適用于干鏡

棱鏡精度0.1棱鏡屈光度

棱鏡重復性0.05棱鏡屈光度

尺寸測量：

直徑max.20mm，±25μm

厚度和CT

-方法論-低相干干涉法

-精度0.1μm

-重復性0.1μm

-測量波長1310nm

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