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    1. QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實驗
      QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實驗
      產品價格:¥140.00(人民幣)
    2. 規格:QFN40-0.4(5*5)翻蓋老化座
    3. 發貨地:廣東深圳
    4. 品牌:
    5. 最小起訂量:1
    6. 免費會員
      會員級別:試用會員
      認證類型:企業認證
      企業證件:通過認證

      商鋪名稱:深圳市鴻怡電子有限公司

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      商品詳情
        產品參數
        型號QFN40-0.4(5*5)翻蓋老化座
        設備類型Adapter
        類型DIP
        電流額定值1A
        觸點電鍍Gold
        觸點材料BerylliumCopper
        位置/插座QFN40
        功能老化測試
        絕緣材料PEI
        最大工作溫度155
        最小工作溫度-55
        單位重量0.005
        包裝盒裝
        最小包裝量1
        封裝/規格插件
        間距0.4
        總針腳數40 1
        圓孔/方孔圓孔
        觸頭鍍層
        認證機構CE
        數量1
        封裝QFN
        批號以出貨為準
        品牌ANDK

        QFN40-0.4-5*5翻蓋老化座
        1.引腳:40 signal Pin 1 GND;
        2.間距:0.4mm
        3.尺寸:5*5mm
        4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
        5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
        6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
        7.Temperature:-55~155℃
        8.Current Rating:1A Max.









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    7. 0571-87774297  
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