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      • 微焦電子元器件檢測設備
        發布者:上海安竹光電科技有限公司  發布時間:2021-05-28 21:06:46  訪問次數:522

                                                                                                                                                      微焦電子元器件檢測設備

        一、儀器簡介:

        XDX-DF130N型無損檢測儀;采用進口49um高分辨率成像系統,微焦點射線管數字成像,圖像清晰.儀器全數字化軟件操作功能;正反選圖像、

        圖像放大縮小、左右旋轉,前后旋轉、翻轉、數字化高清灰度專業圖像采集、千兆網端有線連接,電腦即時成像、存儲和即時打印檢測效果圖片. 使用方便、安全、可靠。


        二、儀器特點:

        XDX-DF130N型X-RAY無損檢測儀,主要用于:半導體元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、電子元器件、封裝元器、集成電路、電容、

        熱敏電阻、手機電路、電池、電路板、電子產品內部結構是否變形、空焊、脫焊、斷裂、移位、等非破壞性檢測;同時還可用于:

         發熱管、發熱絲內部結構檢測、鑄件、壓模鑄件、注塑件、氣孔、氣泡等檢測。


        技術參數:
        1、數字成像視場: 116X146mm(不同面積可訂制)
        2、像素間距:49.5um;(高分辨率成像系統)
        3、間距:200-600mm;
        4、A/D轉換;16/bits
        5、空間分辨率;10.LP/mm(高分辨率)
        6、管電壓:40-60kv;(進口微焦射線機)
        7、管靶流:0.2-0.5mA;
        8、電腦系統:windows10;
        9、遠程控制: 遠程操作軟件;

        10、有線傳輸端口:千兆網口;



        11、主機重量:210kg;
        12、適配器輸出電壓:DC24V。

        13、交流電源頻率:50-60hz;

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